МЕТОД ЛАУЭ
— способ получения дифракционной картины от неподвижного к-ла при облучении его непрерывным спектром рентгеновых лучей.
Пленка или пластинка,
на которую фиксируется дифракционная картина,
называется лауэграммой. Рассмотрение ее дает возможность: 1) судить о кристалличности вещества; 2) установить симметрию к-ла; 3) определить в некоторых случаях угол наклона кристаллографической оси образца к первичному лучу.
Расчет лауэграммы позволяет: 1) точно определить ориентировку монокристалла; 2) определить и проверить отношения осей элементарной ячейки.
От лауэграммы нетрудно перейти к гномостереографическим проекциям к-лов для определения символов отражающих систем плоских сеток.
Это дает возможность следить за поведением плоских сеток к-лов при тех или иных деформациях.
Для съемки лауэграмм применяются специальные камеры (производства НИИФ МГУ и КРОН-2 производства ЛГУ и др.).
Основная особенность лауэграммы — наличие большого числа интерференционных пятен,
ложащихся на кривые линии — эллипсы и гиперболы,
симметрично проходящие через центр рентгенограммы. Каждое пятно лауэграммы представляет собой след луча,
отраженного от некоторой плоскости под углом Θ,
определяющимся уравнением 
,
где l — расстояние пятна до центра рентгенограммы; D — расстояние от кристалла до образца.
Син.: метод неподвижного кристалла. Э. П. Сальдау.
|
