ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
(ФЭС), метод изучения электронного строения в-ва, основанный на явлении
фотоэффекта с использованием УФ излучения. При поглощении фотона атомом среды
испускается электрон (фотоэлектрон), причем энергия фотона hn (n - частота
излучения, h - постоянная Планка) за вычетом энергии связи ЕСВ
электрона передается фотоэлектрону и м. б. измерена как его кине-тич. энергия
Eкин:
Eсв =
hn - E
кин.
Ф. с. и рентгеноэлектронную спектроскопию
иногда объединяют общим названием "электронная спектроскопия".
Разделение между двумя методами условно: при
эВ говорят о Ф. с., при больших hn - о рентгеноэлектронной спектроскопии.
В Ф. с. используют монохроматич.
излучение He(I) или Не(П), энергия фотона соотв. 21,2 и 40,8 эВ; реже применяют
резонансные линии излучения др. инертных газов и монохро-матизир. синхротронное
излучение. Энергетич. спектры фотоэлектронов измеряют в фотоэлектронных спектрометрах,
осн. элементы к-рых - источник излучения, электростатич. анализатор энергии
электронов Eкин и детектор электронов для измерения интенсивности
полос фотоэлектронного спектра, к-рая пропорциональна содержанию соответствующего
элемента в образце. Разрешающая способность (ширина полос) составляет от 10
до 80 мэВ, точность определения Eкин достигает 10-25
мэВ.
Ф. с. позволяет изучать
электронные и колебат. уровни энергии молекул, потенциалы ионизации
(как
вертикальные, так и адиабатические), поверхностные эффекты и др. характеристики.
Колебат. структура фотоэлектронных спектров хорошо проявляется у сравнительно
простых двухатомных молекул, к-рые м. б. представлены моделью двух взаимодействующих
точечных масс m1 и m2 [приведенная масса
M= m1m2/(m1 + m2)] с равновесным
расстоянием между ними r (длина связи) и гармонич. силовой постоянной К (см. Колебательные спектры
). Согласно классич. механике, частота колебаний
wи атомных ядер ионизированной молекулы, рассчитываемая по данным
ИК спектров, связана с M и К соотношением:
Если фотоэлектрон удаляется
со связывающей мол. орбитали, величина К меньше, а если с разрыхляющей
орбитали -больше, чем значение, к-рое входит в аналогичное соотношение для неионизир.
молекулы, следовательно, Ф. с. позволяет установить характер мол. орбиталей,
если сравнить фотоэлектронную частоту
с частотой колебаний
для неионизированной (свободной) молекулы.
Значения
и связаны
с адиабатич. (Iа) и вертикальным (Ib)
потенциалами ионизации соотношением:
Разница величин (Ib
- Ia) м. б. использована в случае несложных 3- или 4-атомных
молекул для расчета изменений межатомного расстояния
и валентного угла ,
обусловленных фотоионизацией:
(
и r указаны в ,
M -
в атомных единицах массы
,
- в 1000 см-1).
Измерения энергий связи
валентных электронов молекул в газовой фазе позволяет проверить точность теоретич.
расчетов, установить закономерности электронного строения молекул в изоэлектронных,
изовалентных и т. п. рядах, выявить влияние заместителей, установить их донорно-акцепторные
св-ва. Фотоэлектронные спектры известны примерно для 10000 своб. молекул.
Для твердых тел Ф. с. позволяет
определить положение уровня Ферми и распределение электронной плотности. При
изучении адсорбции м. б. установлены: характер присоединения молекулы к пов-сти
(физ. адсорбция или хемосорбция), природа взаимод. молекулы с пов-стью, роль
в этом взаимод. разл. мол. орбиталей. Важная характеристика - угловая зависимость
фотоэлектронного спектра, т. е. изменение интенсивности полосы при изменении
угла
между направлением фотонов и нормалью к пов-сти, а также угла
между нормалью к пов-сти и направлением вылета фотоэлектронов. Установлено,
напр., что молекула СО присоединяется по граням (111) кристаллов Pt и Pd таким
образом, что ось СО располагается вертикально, а при адсорбции по грани Pt (110)
ось СО отклонена от нормали к пов-сти на угол 26°.
Относит. интенсивности
полос фотоэлектронных спектров позволяют качественно судить о составе атомных
орбиталей, линейная комбинация к-рых образует данную мол. орбиталь (см. ЛКАО-приближение
).
Интенсивность полосы Iмо, связанной с нек-рой мол. орбиталью,
определяется интенсивностя-ми полос ,
связанных с атомными орбиталями
и заселенностями этих орбиталей (по
Малликену):
Интенсивностизависят
от энергии фотона hn, поэтому по изменению Iмо можно
качественно судить об участии разл.
Al в образовании данной
мол. орбитали. Напр., для 3d-орби-тали Ni интенсивность полосы
возрастает более чем в 10 раз при переходе от излучения He(I) к излучению Не(П),
поэтому рост интенсивности полосы для изучаемого электронного уровня молекулы
указывает на значит, вклад 3d-op-биталей в волновую ф-цию данного состояния.
Лит.: Нефедов В.И.,
В о в н а В.И., Электронная структура химических соединений, M., 1987; их же,
Электронная структура органических и элементоорганических соединений, M., 1989;
Вовна В.И., Электронная структура органических соединений по данным фотоэлектронной
спектроскопии, M., 1991. В. И. Нефедов.
|